T/C MASTERIR-A是用于高、低温环境下红外折射率测量设备(国产化率100%),可实现红外材料在波长1~12μm的折射率和dn/dT测量,设备采用液氮或制冷机方式制冷，温度可覆盖-80~150°C。T/CMASTERIR-A备精度高、软件自动分析等优点，为红外材料性能测试提供了理想的解决方案。