光领制造，智创未来！朗蔚高精检测仪器重磅亮相北京光博会，C20展位揭秘！

——探索科技前沿，共赴光电盛会之约 | 朗蔚仪器邀您共聚2025北京光博会！

展会信息

Exhibition Information

时间：2025.6.25-6.27

地点：北京·国家会议中心（北京市朝阳区天辰东路7号）

展会介绍：2025年第十六届光电子产业博览会将继续秉承高规格、高水准，依托中国光学工程学会强大行业资源集群效应，吸引来自国内外的行业翘楚展示其最新成果及创新应用案例，全面呈现红外微光技术与应用、激光与智能制造、光通信&光传感及物联网、光学&精密光学制造、测控技术与仪器、创新科技及实验成果、微纳制造展区、北京半导体展览会八大主题展。

展位索引

Exhibition Booth Index

朗蔚仪器，E2-C20，与您不见不散！

展品速递

Exhibit express  

低温线膨胀测试仪

Cryogenic Linear Expansion Coefficient Test system

T/C MASTER CLTE-01型低温线膨胀系数测量仪是自主国产研发的深低温环境线膨胀系数测量装备。可用于各类型宇航材料线膨胀系数特性测试。该测量仪采用激光干涉测微方法，具备高通量、零膨胀系数(10^-7/K) 试样的线胀系数测量能力，测量温度覆盖 -240℃~100℃。

高低温折射率测量仪

T/C MASTER IR-A

T/C MASTER IR-A是用于高、低温环境下红外折射率测量设备（国产化率100%），可实现红外材料在波长1-12um的折射率和dn/dT测量，设备采用液氮或制冷机方式制冷，温度可覆盖-80~150℃。T/C MASTER IR-A具备精度高、软件自动分析等优点，为红外材料性能测试提供了理想的解决方案。

热像仪综合性能测试系统

Infrared Master-Heat camera Universal Test system

热像仪综合性能测试系统是一系列高性能的热像仪整机性能测试与评价系统，可应用于热像仪整机装调、性能测试。既可以完成表征热像仪成像性能水平参数(如MRTD、NETD、MTF等)的测试；又可以完成热像仪在工程实际应用所要求的技术指标(如 FOV、光轴一致性、光轴稳定性等)的测试；还可以用于热像仪实时图像调校。

全自动3D缺陷检测设备

Automatic 3D Defect Detection Equipment

设备采用正投影3D高速成像传感器，基于创新的条纹轮廓术，实现亚微米级3D成像，能够从多角度进行图像融合与配准，全面解决3D成像过程中的阴影遮挡问题;独立开发的双通道双远心成像技术，保证了2D和3D图像的同时拍摄，且能够提供一组3D点云和五方向高清2D图像。具有成像速度快、图像信息丰富的明显优势。广泛应用于密集PCBA、半导体先进封测、消费电子和汽车模具等高精度检测与量测行业。

参展预约

Ticket Reservation

点击以下链接输入手机号，进行注册登记，填写基本信息，填写问卷调查，登记成功后有二维码，届时刷码即可参展。

https://prereg2.eainfor.com/PreReg/Index/127?lan=Cn&s=0&openid=o2irgs29ZAf9jtSkdE7Z_9boQDtc

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