IR FPA红外焦平面探测器测试装置可测试探测器像元响应率、响应率不均匀性、噪声电压、探测率噪声等效温差、有效像元率、固定图形噪声、噪声等效功率、饱和辐照功率、动态范围、相对光谱效应读出速率、帧频、串音等性能参数。适用于短波红外/中波红外 /长波红外的各种面阵、线阵，像元中心距 7.5um/10um/12um/15um/25um/30um 的制冷红外焦平面阵列。