T/C MASTER IR-B
低温折射率测量仪
T/C MASTER IR-B是自主研发的低温环境高精度红外折射率测量装备，可实现典型红外材料在波长1-12um的折射率测量，采用液氮或制冷机，环境温度可覆盖低温100K~300K。T/C MASTER IR-B测量精度高、自动测量分析等优点，为低温红外材料折射率提供了理想的解决方案。
低温折射率测量仪技术指标及规格参数
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技术指标 |
规格参数 |
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折射率测试精度 |
±5×10-5 |
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折射率测试可重复性 |
±2×10-5 |
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波长范围 |
1μm~12μm（可扩展） |
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光源类型 |
150瓦石英卤素灯（0.25~3.5μm） |
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陶瓷光源（2~30μm） |
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变速光学斩波器 |
10~350Hz |
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转台分辨率 |
0.008arcsec |
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角度测量精度 |
1arcsec |
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温控精度 |
±0.1℃ |
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探测器 |
碲镉汞/硫化铅/铟镓砷（可选） |
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温度范围 |
100K~300K |
注：以上精度为氟化钙标准样品测得
